Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English | Polski
Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka UWSB Merito Chorzów

Prolib Integro - strona głównaBiblioteka UWSB Merito Chorzów

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Chaniecki, Zbigniew"" wg kryterium: Autor

  Lista filtrów

Ogranicz do:

Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-13 z 13
    Podgląd okładki
    Tytuł :
    Towards Gestural Interaction with 3D Industrial Measurement Data Using HMD AR
    Autorzy :
    Walczak, Natalia
    Sobiech, Franciszek
    Buczek, Aleksandra
    Jeanty, Mathias
    Kupiński, Kamil
    Chaniecki, Zbigniew
    Romanowski, Andrzej
    Grudzień, Krzysztof
    Pokaż więcej
    Źródło :
    Digital Interaction and Machine Intelligence : Proceedings of MIDI’2022 – 10th Machine Intelligence and Digital Interaction – Conference, December 12-15, 2022, Warsaw, Poland (Online). 710:213-221
    Książka elektroniczna
    Szczegóły
    Podgląd okładki
    Tytuł :
    Diagnostyka procesów i systemów
    Autorzy :
    Adamczyk, Marek
    Augustynowicz, Andrzej
    Barszcz, Tomasz
    Bartecki, Krzysztof
    Bielawski, Piotr
    Borowczyk, Henryk
    Brzózka, Jerzy
    Burnos, Tomasz
    Bursy, Gerard
    Bzymek, Anna
    Chaniecki, Zbigniew
    Cholewa, Adam
    Chromczak, Bartosz
    Chrzanowski, Paweł
    Cięszczyk, Sławomir
    Czaja, Paweł
    Dołęga, Bogusław
    Duda, Jan Tadeusz
    Dudek, Krzysztof
    Dąbrowa, Marcin
    Fidali, Marek
    Golec, Tomasz
    Grabowski, Marcin
    Głuch, Jerzy
    Hanzel, Michał
    Jaroszewski, Krzysztof
    Jóźwiak, Ireneusz J.
    Kisała, Piotr
    Komada, Paweł
    Kopka, Ryszard
    Korbicz, Józef (Red.)
    Korniak, Jacek
    Kotyra, Andrzej
    Kowal, Marek (Red.)
    Kownacki, Łukasz
    Kozłowski, Jakub
    Kościelny, Jan Maciej
    Kulczycki, Piotr
    Kurkowski, Marek
    Leszczyński, Marcin
    Lindstedt, Paweł
    Lower, Michał
    Malina, Witold
    Marczak, Krzysztof
    Miczulski, Wiesław
    Mikulik, Jerzy
    Moczulski, Wojciech
    Mrugalski, Marcin
    Ostapkowicz, Paweł
    Oszust, Mariusz
    Paczyński, Andreas
    Patan, Krzysztof (Red.)
    Pawlik, Marcin
    Pieczyński, Andrzej
    Piotrowska-Kownacka Dorota
    Puchała, Dariusz
    Puskarczyk, Marcin
    Rafajłowicz, Ewaryst
    Rafajłowicz, Wojciech
    Rogacewicz, Tomasz
    Rojek, Ryszard
    Rudowski, Robert
    Rzepiejewski, Paweł
    Rzucidło, Paweł
    Sankowski, Dominik
    Sarafin, Maciej
    Skuba, Marcin
    Smiatacz, Maciej
    Sot, Karol
    Stokfiszewski, Kamil
    Strojek, Piotr
    Syfert, Michał
    Szczepaniak, Piotr S.
    Timofiejczuk, Anna
    Tomasik, Piotr
    Tomczyk, Arkadiusz
    Trybus, Leszek
    Tykierko, Mateusz
    Uciński, Dariusz
    Uhl, Tadeusz
    Ułasiewicz, Jędrzej
    Wachla, Dominik
    Wajs, Wiesław
    Wasiewicz, Piotr
    Wnuk, Marek
    Wyczółkowski, Ryszard
    Wysocki, Marian
    Wysogląd, Bogdan
    Wójcik, Waldemar
    Zając, Michał
    Łabęda, Zofia
    Ślęzak-Żołna, Justyna
    Świder, Zbigniew
    Święcicki, Mariusz
    Pokaż więcej
    Dostęp URL :
    https://www.europeana.eu/item/0940424/_nnh4xb5?utm_source=api&utm_medium=api&utm_campaign=YuvuWBeCa
    Szczegóły
    Podgląd okładki
    Tytuł :
    Beyond Imaging - Interactive Tabletop System for Tomographic Data Visualization and Analysis
    Autorzy :
    Woźniak, Mikołaj
    Polak-Sopińska, Aleksandra
    Romanowski, Andrzej
    Grudzień, Krzysztof
    Chaniecki, Zbigniew
    Kowalska, Aleksandra
    Wróbel-Lachowska, Magdalena
    Pokaż więcej
    Źródło :
    Advances in Manufacturing, Production Management and Process Control : Joint proceedings of the AHFE 2018 International Conference on Advanced Production Management and Process Control, the AHFE International Conference on Human Aspects of Advanced Manufacturing, and the AHFE International Conference on Additive Manufacturing, Modeling Systems and 3D Prototyping, July 21-25, 2018, Loews Sapphire Falls Resort at Universal Studios, Orlando, Florida, USA. 793:90-100
    Książka elektroniczna
    Szczegóły
    Podgląd okładki
    Tytuł :
    Diagnostyka procesów i systemów
    Autorzy :
    Korbicz, Józef - red.
    Augustynowicz, Andrzej
    Grabowski, Marcin
    Stokfiszewski, Kamil
    Fidali, Marek
    Borowczyk, Henryk
    Rojek, Ryszard
    Kościelny, Jan Maciej
    Puchała, Dariusz
    Rafajłowicz, Wojciech
    Mrugalski, Marcin
    Świder, Zbigniew
    Bursy, Gerard
    Skuba, Marcin
    Tomczyk, Arkadiusz
    Uhl, Tadeusz
    Cięszczyk, Sławomir
    Bielawski, Piotr
    Wysogląd, Bogdan
    Wysocki, Marian
    Pawlik, Marcin
    Trybus, Leszek
    Paczyński, Andreas
    Ostapkowicz, Paweł
    Święcicki, Mariusz
    Bzymek, Anna
    Kowal, Marek - red.
    Strojek, Piotr
    Moczulski, Wojciech
    Rudowski, Robert
    Chaniecki, Zbigniew
    Brzózka, Jerzy
    Zając, Michał
    Wnuk, Marek
    Uciński, Dariusz
    Rogacewicz, Tomasz
    Marczak, Krzysztof
    Wachla, Dominik
    Kozłowski, Jakub
    Komada, Paweł
    Kulczycki, Piotr
    Kisała, Piotr
    Burnos, Tomasz
    Dudek, Krzysztof
    Sarafin, Maciej
    Sot, Karol
    Sankowski, Dominik
    Chromczak, Bartosz
    Rafajłowicz, Ewaryst
    Jaroszewski, Krzysztof
    Wójcik, Waldemar
    Mikulik, Jerzy
    Szczepaniak, Piotr S.
    Wyczółkowski, Ryszard
    Malina, Witold
    Adamczyk, Marek
    Bartecki, Krzysztof
    Kownacki, Łukasz
    Dołęga, Bogusław
    Smiatacz, Maciej
    Czaja, Paweł
    Kurkowski, Marek
    Piotrowska-Kownacka Dorota
    Hanzel, Michał
    Ślęzak-Żołna, Justyna
    Duda, Jan Tadeusz
    Barszcz, Tomasz
    Tykierko, Mateusz
    Tomasik, Piotr
    Korniak, Jacek
    Jóźwiak, Ireneusz J.
    Golec, Tomasz
    Rzepiejewski, Paweł
    Wasiewicz, Piotr
    Ułasiewicz, Jędrzej
    Dąbrowa, Marcin
    Lindstedt, Paweł
    Lower, Michał
    Kopka, Ryszard
    Timofiejczuk, Anna
    Leszczyński, Marcin
    Oszust, Mariusz
    Puskarczyk, Marcin
    Kotyra, Andrzej
    Pieczyński, Andrzej
    Patan, Krzysztof - red.
    Syfert, Michał
    Łabęda, Zofia
    Rzucidło, Paweł
    Głuch, Jerzy
    Wajs, Wiesław
    Cholewa, Adam
    Chrzanowski, Paweł
    Miczulski, Wiesław
    Pokaż więcej
    Źródło :
    Zielonogórska Biblioteka Cyfrowa
    Dostęp URL :
    http://europeana.eu/portal/record/09404/id_oai_zbc_uz_zgora_pl_12266.html
    Szczegóły
    Podgląd okładki
    Tytuł :
    Ilo\'sciowa analiza porowato\'sci materia\lu sypkiego z zastosowaniem systemu tomografii promieniowania X
    Autorzy :
    Grudzień, Krzysztof
    Adrien, Jérôme
    Babout, Laurent
    Romanowski, Andrzej
    Chaniecki, Zbigniew
    Pokaż więcej
    Temat :
    [PHYS.MECA.MEMA]Physics [physics]/Mechanics [physics]/Mechanics of materials [physics.class-ph]
    [PHYS.MECA.MEMA] Physics [physics]/Mechanics [physics]/Mechanics of materials [physics.class-ph]
    ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
    Źródło :
    Automatyka/Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanislawa Staszica w Krakowie
    Automatyka/Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanislawa Staszica w Krakowie, 2009, 13, pp.1269--1284
    Dostęp URL :
    https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::c01cc27e0cfe6f90bbafaaba281c9f29
    https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01668883
    Szczegóły
    Podgląd okładki
    Tytuł :
    Design and implementation of a pervasive occupancy displaying system in an academic environment
    Autorzy :
    Romanowski, Andrzej
    Chaniecki, Zbigniew
    Grudzien, Krzysztof
    Garbaa, Hela
    Lidia Jackowska-Strumiłło
    Sankowski, Dominik
    Wozniak, Pawel
    IEEE
    Pokaż więcej
    Źródło :
    ResearcherID
    Dostęp URL :
    https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::853c567c87612f584137bbd773a63a76
    http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=ORCID&SrcApp=OrcidOrg&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=WOS:000353640000052&KeyUID=WOS:000353640000052
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-13 z 13

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies